Sauter Schichtdickenmessgerät - FE/NFE extern Max 100 µm; 1250 µm d= 01 µm; 1 µm TE 1250-0.1FN günstig versandkostenfrei online kaufen: große Auswahl günstige Preise

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Technische Daten:

ISO-Kalibrierung Artikel: 961-112
ISO Preis: 210
Material Gehäuse/Anzeigegerät: Kunststoff
Abmessungen Gehäuse (ohne abnehmbare Teile): 131×65×28 mm
Gehäuse Breite: 131 mm
Gehäuse Tiefe: 65 mm
Gehäuse Höhe: 28 mm
Displayart: LCD
Display Ziffernhöhe - Groß: 10 mm
Einheiten: µm;inch (mil)
Batterie: 4×1.5 V AAA
Batterie Betriebsdauer: 50 h
Umgebungstemperatur (max): 50 °C
Umgebungstemperatur (min): 0 °C
Bruttogewicht: 0,75 kg
Nettogewicht: 0,10 kg
Max (µm): 100 µm; 1250 µm
Ablesbarkeit (µm): 0,1 µm; 1 µm
Beschichtung Testobjekt: Nicht-magnetische Schichten auf Eisen und Stahl, Typ F,Beschichtungen auf nicht-magnetischen Metallen, Typ N

Sauter Schichtdickenmessgerät - FE/NFE extern Max 100 µm; 1250 µm, d= 0,1 µm; 1 µm, TE... mehr

Sauter Schichtdickenmessgerät - FE/NFE extern Max 100 µm; 1250 µm, d= 0,1 µm; 1 µm, TE 1250-0.1FN, 4045761140134

Schichtdickenmessgerät - FE/NFE extern Max 100 µm; 1250 µm, d= 0,1 µm; 1 µm
Ergonomisches Design und externer Sensor für höchsten Bedienkomfort

Externer Sensor zum leichteren Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte
Datenschnittstelle RS-232 serienmäßig
Nullplatte und Justierfolien inklusive
Lieferung im robusten Tragekoffer
Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen
Wählbare Einheiten: µm, inch (mil)
Auto-Power-Off